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IC半導體通電測試用什么溫度的高低溫試驗箱IC半導體溫度測試要求一般在低溫40°到高溫150°產(chǎn)品沒有特殊要求就可以了，產(chǎn)品有特殊要求除外，一般半導體還需要做高壓加速老化試驗箱，測試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關性能進行測試，測試后，通過高壓加速老化壽命試驗機檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求，以便供產(chǎn)品的設計、改進、檢定及出廠檢驗使用。
二、IC半導體通電測試用什么溫度的高低溫試驗箱簡介：
1、外膽均采用優(yōu)質(zhì)(t=1mm)A3鋼板數(shù)控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理，更顯光潔、美觀。
2、內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板。
3、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉.保溫厚度為100mm
4、溫濕度循環(huán)系統(tǒng):采用特制空調(diào)型低噪音長軸風扇電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流 垂直擴散循環(huán)。
5、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉
供應工業(yè)高低溫測試箱|溫濕度交變試驗箱
不銹鋼高低溫試驗箱（-40~+150℃）高低溫交變試驗箱滿足試驗標準：
☆GB10586-89濕熱試驗箱技術條件
☆GB10586-89低溫試驗箱技術條件
☆GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件
☆GB11158 高溫試驗箱技術條件
☆GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
☆GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法
☆GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法
☆GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法
☆GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法
☆IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法
☆IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法
可程式恒溫恒濕試驗箱
不銹鋼高低溫試驗箱（-40~+150℃）高低溫交變試驗箱控溫系統(tǒng)
☆溫度控制儀表采用進口觸摸屏，可編程微電腦PID控制SSR輸出運行，全進口超大液晶彩色觸摸屏幕畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易，可連接電腦操作；
☆精度：0.1℃(顯示范圍)；解析度：±0.1℃；
☆感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；
☆控制方式：熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；
☆具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定；
☆控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由屏幕顯示；
☆具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時間設定大值為99小時59分；
☆資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機；
☆具有RS-232或RS-485遠程通訊界面，可在電腦上設計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關機等功能。